Dr. Roberto Machorro Mejía

Categoría: Investigador Titular B
SNI: III
PRIDE: C
Departamento: Materiales Avanzados
Extensión: 372
Email: roberto@cnyn.unam.mx
Página Web: optica.machorro.net
Laboratorio: Espectroscopí­a de Superficies

Resumen Curricular

R.F.C. MAMR-500329-948, Fecha y Lugar de Nacimiento: 29 de marzo de 1950, Puebla, Pue. Nacionalidad: Mexicana, Máximo grado de estudios: Doctorado (INAOE, 1986). Experiencia desde 1976 en investigación y desde 1972 en docencia, en las siguientes instituciones: UNAM (Feb 1987 a la fecha), INAOE (Julio 86 a Enero 87), Optical Sciences Center, Az, EUA (Junio de 85 a Junio de 86 ), National Physical Laboratory, Londres, Inglaterra (Abril – Noviembre de 1982) y Centro de Investigación Cientí­fica y Educación Superior de Ensenada (Junio 1976 a Enero de 1987 ), UABC (carrera de física, por hora-clase) de 1979 a la fecha, 1971-72 UAP (preparatoria).

Publicaciones en revistas internacionales con arbitraje (dentro del SCI): 49, un capí­tulo en libro.

• 225 citas, incl. 56 autocitas
• Memorias en extenso en congresos internacionales: 24
• Memorias en extenso en congresos nacionales: 11
• Presentaciones en congresos nacionales 73
• Presentaciones en congresos internacionales 47
• Participación en proyectos de investigación 13, 8 como responsable
• Dirección de tesis: 9 (3 Lic, 4 MC, 2 Dr)
• Aparatos para la enseñanza de la fí­sica, nivel licenciatura: 17
• Aparatos para la enseñanza de la fí­sica, nivel secundaria y preparatoria : 7
• Diseño o integración de sistemas para la investigación: 22
• Espectrémetro de campo, CCMC 2001, 2005.
• Sistema de adquisición multicanal de espectros, CCMC 2001.
• Automatización de la espectroscopí­a por desorción térmica (TDS). CCMC, 1998
• Sistema de depósito de capas delgadas inhomogéneas, IFUNAM, Ensenada 1994
• Platina doble para la técnica de reflexión total atenuada (2a ver) IFUNAM, Ensenada, 1994.
• Platina doble para la técnica de reflexión total atenuada IFUNAM, Ensenada,1991
• Programa computacional para el análisis de multicapas. IFUNAM Ensenada, 1990
• Automatización de un elipsómetro nulo, IFUNAM, Ensenada, 1987
• Sistema de reflexión total atenuada, IFUNAM, Ensenada, 1989
• Reflectómetro absoluto, con monocromador y esfera integración. CICESE, 1984
• Automatización del sistema monitor de espesores. National Physical Laboratory, UK, 1982.
• Sistema monitor de espesores, con monocromador. CICESE, Ensenada, B.C. 1980
• Interferómetro de haces múltiples. CICESE, Ensenada, B.C. 1981
• Interferémetro de desplazamiento lateral. CICESE, Ensenada, B.C. 1979
• Sistema probador tipo Ronchi. CICESE, Ensenada, B.C. 1978
• Diseño de sistemas para la industria
• Espectrofotómetro comercial para análisis clí­nico, una celda, ELyPTICA 1992
• Reflectómetro para medición de lentes oftálmicas, ELyPTICA, 1999
• Sistema de supervisión y ayuda en procesos industriales, ELyPTICA, 2000
• Espectrofotómetro comercial para análisis clí­nico, rotor 40 celdas, ELyPTICA 2002

Publicaciones relevantes

• E. Pérez-Tijerina, Roberto Machorro, and J. Bohigas, “Bidimensional multiple spectra acquisition using fiber optics”, Review of Scientific Instruments, 75, 455-461, 2004.
• R. Machorro, E.C. Samano, G.Soto, F. Villa and L. Cota-Araiza, “Modification of refractive index in silicon oxynitrides films during deposition”, Materials Letters 45, 47-50 (2000).
• E.C. Samano, R. Machorro, G. Soto, and L. Cota, “In situ ellipsometric characterization of SiNx films grown by laser ablation”, J. Appl. Phys., 84, 5296-5305 (1998).
• Roberto Machorro, E.C. Samano, G. Soto and L. Cota, “SiCxNy thin films alloys prepared by pulsed excimer laser deposition”, Appl. Sur. Sci, 127-129, 564-568 (1998).
• Francisco Villa, Roberto Machorro, J.Siqueiros and Luis E. Regalado, “Admittance Determination of the Optical Properties of Thin Films”, Appl. Opt. 33, 2672-2677, (1994).
• J. Siqueiros, R. Machorro y L.E. Regalado, “Determination of the optical constants of MgF2 and ZnS from spectrophotometric measurements and the classical oscillator model” , Applied Optics 27,2549(1988).